Measurement: A Very Short Introduction PDF

David J. Hand ist ein bekannter britischer Statistiker, geboren am 30. Juni 1950 in Peterborough, Großbritannien. Er ist Professor für Statistik am Imperial College in London. Im Laufe der Jahre hat er sich als führende Persönlichkeit auf dem Gebiet der Statistik und Datenanalyse etabliert.

Akademische und berufliche Erfolge:

• Emeritierter Professor für Mathematik und Senior Research Investigator am Imperial College, London.
• Zuvor hatte er den Lehrstuhl für Statistik am Imperial College in London inne.
• Fellow der British Academy und Honorary Fellow des Institute of Actuaries.
• War zweimal Präsident der Royal Statistical Society.
• War acht Jahre lang nicht geschäftsführender Direktor der britischen Statistikbehörde.
• Mitglied des Europäischen Statistischen Beratenden Ausschusses.
• Vorsitzender des Expert User Advisory Committee des National Statistician und des Center for Applied Data Ethics Advisory Committee des ONS.
• Ehemaliger Vorsitzender des Forschungsausschusses des Data Science Institute des Imperial College und Vorsitzender des britischen Administrative Data Research Network.
• Acht Jahre lang leitender wissenschaftlicher Berater von Winton Capital Management.

Urheberschaft:

David J. Hand ist ein produktiver Autor mit einem bemerkenswerten Werk, darunter:

• Über 300 wissenschaftliche Arbeiten.
• 32 Bücher zu verschiedenen Aspekten der Datenanalyse und Statistik.
• Zu seinen jüngsten Büchern gehören „Amy’s Luck“, „Dark Data“, „From BIP to Sustainable Wellbeing“, „Measurement: A Very Short Introduction“ und „Information Generation: How Data Rules Our World“.

Auszeichnungen und Anerkennungen:

• Ausgezeichnet mit der Guy-Medaille der Royal Statistical Society im Jahr 2002.
• Im Jahr 2012 erhielten er und seine Forschungsgruppe den Credit Collections and Risk Award für Beiträge zur Kreditbranche.
• Ausgezeichnet mit der George-Box-Medaille im Jahr 2016.
• Erhielt 2019 die Forschungsmedaille der International Federation of Classification Societies.
• Im Jahr 2013 wurde er für seine herausragenden Beiträge zu Forschung und Innovation zum OBE (Officer of the Order of the British Empire) ernannt.

David J. Hands bemerkenswerte Karriere und Beiträge haben im Bereich der Statistik unauslöschliche Spuren hinterlassen und ihn zu einer angesehenen Autorität und einem produktiven Autor auf dem Gebiet der Datenanalyse und Statistikwissenschaft gemacht.

Measurement: A Very Short Introduction pdf von David Hand

The concept of measurement is an elemental cornerstone that underpins virtually every facet of the modern world. Its influence extends across the sciences, social sciences, medicine, economics, and even everyday life. We are constantly engaged in measurement, whether quantifying the vastness of distant galaxies, assessing air temperature, evaluating risk levels, determining political majorities, calculating taxes, monitoring blood pressure, measuring IQ, or tracking weight.

A Historical Journey:

The history of measurement dates back to ancient times, marked by a gradual process of standardization. Over the centuries, measurement has evolved, yielding diverse types, levels of accuracy, and systems of units, each tailored to specific contexts. Within the realm of measurement lie essential concepts such as variability, accuracy, reliability, and error, as well as the complexities of measuring extreme values.

A Mathematical Foundation:

In "Measurement: A Very Short Introduction," David J. Hand elucidates the common mathematical framework that underlies all forms of measurement. He explores the principal approaches to measurement and navigates the inherent challenges involved.

A Brief Glimpse into the Past:

The book embarks on a concise historical journey, tracing the evolution of measurement from its origins to the present day.

Unveiling Measurement's Mysteries:

David J. Hand delves into the intricacies of measurement, offering insight into its multifaceted nature and the principles that govern it. The book tackles topics ranging from variability to accuracy and from reliability to error, shedding light on the underlying mathematical framework.